【现货包邮】芯片验证漫游指南 从系统理论到UVM的验证全视界 刘斌 路桑 芯片验证工程师技术

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刘斌(路桑) 著



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发表于2024-12-28

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图书介绍

店铺: 蓝墨水图书专营店
出版社: 电子工业出版社
ISBN:9787121339011
商品编码:10019513775
出版时间:2018-03-31
页数:1
字数:1


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图书描述


                                 
内容介绍

    资深验证专家刘斌(路桑)向您全面介绍芯片验证,从验证的理论,到SystemVerilog语言和UVM验证方法学,再到高级验证项目话题。这本综合性、实用性的验证理论和编程方面的图书,针对芯片验证领域不同级别的验证工程师,给出由浅入深的技术指南:学习验证理论来认识验证流程和标准,学习SystemVerilog语言和UVM方法学来掌握目前主流的动态验证技术,了解高级验证话题在今后遇到相关问题时可以参考。


作者介绍

    刘斌(路桑)目前是Intel公司的资深验证专家。在Intel移动通信事业部主持验证架构规划和方法学研究,担任过几款亿门级通信芯片的验证经理角色。在工程领域之外,他在西安电子科技大学和西安交通大学客座讲授芯片验证课程。创办的验证技术订阅号“路科验证”,目前已有超过10000名的订阅者。多次在设计验证行业国际会议和展览中发表论文,并做了富有特色的演讲。在西安交通大学取得微电子专业学士学位,在瑞典皇家理工学院取得芯片设计专业硕士学位。



目录


第1章  芯片验证全视

  1.1  功能验证简介

  1.2  验证的处境

    1.2.1  验证语言的发展

    1.2.2  验证面临的挑战

  1.3  验证能力的5个维度

    1.3.1  完备性

    1.3.2  复用性

    1.3.3  高效性

    1.3.4  高产出

    1.3.5  代码性能

  1.4  验证的任务和目标

    1.4.1  按时保质低耗

    1.4.2  芯片研发与客户反馈

    1.4.3  缺陷增长曲线

  1.5  验证的周期

    1.5.1  验证周期中的检查点

    1.5.2  功能详述

    1.5.3  制定验证计划

    1.5.4  开发验证环境

    1.5.5  调试环境和HDL文件

    1.5.6  回归测试

    1.5.7  芯片生产

    1.5.8  硅后系统测试

    1.5.9  逃逸分析

  1.6  本章结束语

第2章  验证的策略

  2.1  设计的流程

    2.1.1  TLM模型的需求和ESL开发

    2.1.2  传统的系统设计流程

    2.1.3  ESL系统设计流程

    2.1.4  语言的抽象级比较

    2.1.5  传统的系统集成视角

    2.1.6  ESL系统集成视角

  2.2  验证的层次

    2.2.1  模块级

    2.2.2  子系统级

    2.2.3  芯片系统级

    2.2.4  硅后系统级

  2.3  验证的透明度

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据说这本书很适合学习,试试看,看了几页感觉还不错的

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书不错,实操型的,适合初学者,多练练

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