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《X射线多晶衍射数据Rietveld精修及GSAS软件入门》一书具有很强的实用性,可以作为材料、化学以及地质等领域学习X射线多晶衍射Rietveld法结构精修和GSAS软件的研究人员的入门参考书,也可以作为本科生、研究生教学的实验教材
内容简介
Rietveld法全谱拟合已成为X射线多晶衍射修正晶体结构的重要方法。本书共分为四章,侧重从操作示例介绍Rietveld法的基本原理和精修过程。第1章简要介绍Rietveld法的发展概况和基本原理。第2章介绍精修软件EXPGUI-GSAS的安装和使用界面。第3章介绍Rietveld法X射线多晶衍射数据的实验测试,并以简单例子演示EXPGUI-GSAS精修过程以及结果的提取和图谱绘图。第4章给出了三个提高练习示例,包括创建仪器参数文件、含非晶混合物的定量分析以及占位修正等。
内页插图
目录
第1章 Rietveld法结构精修
1.1 Rietveld法结构精修发展概况
1.2 Rietveld法基本原理
1.3 参数修正顺序与结果判据
1.3.1 参数修正的顺序
1.3.2 精修的数值判据
1.3.3 精修的图示判断
1.4 精修过程出现的问题和对策
1.5 Rietveld法结构精修的应用
1.5.1 修正晶体结构
1.5.2 相变研究和点阵常数测定
1.5.3 物相定量分析
1.5.4 晶粒尺寸和微应变测定
第2章 EXPGUI-GSAS软件安装与界面介绍
2.1 GSAS软件简介
2.2 EXPGUI-GSAS软件的安装
2.3 EXPGUI-GSAS软件界面介绍
2.3.1 菜单栏
2.3.2 选项卡界面
2.3.3 EXPGUI帮助内容
第3章 EXPGUI-GSAS结构精修起步
3.1 精修前的准备工作
3.1.1 衍射数据的测定
3.1.2 衍射数据的转换
3.1.3 初始结构的获取
3.2 EXPGUI精修简单示例
3.2.1 生成EXP文件
3.2.2 精修过程
3.2.3 常见问题
3.3 精修结果提取与绘图
3.3.1 精修结果提取
3.3.2 精修图谱绘图
第4章 EXPGUI-GSAS提高练习
4.1 仪器参数文件的建立
4.1.1 基本知识
4.1.2 操作过程
4.2 物相(含非晶)定量分析
4.2.1 基本原理
4.2.2 衍射数据测试
4.2.3 精修过程
4.3 Le Bail法拟合以及约束的使用
4.3.1 问题描述
4.3.2 精修过程
参考文献
前言/序言
X射线多晶衍射技术用于分析材料的相结构、相组成、晶粒大小、晶粒取向以及微结构等,是研究多晶材料结构与性能间关系的重要手段,广泛应用于材料、化学、物理、地质、建筑、航空航天以及医药等领域。但是X射线多晶衍射具有固有的缺点,衍射峰重叠严重,丢失了大量有用的结构信息。1967年荷兰晶体学家Hugo M.Rietveld提出了利用计算机对中子多晶衍射数据进行全谱拟合的方法,克服了过去多晶衍射数据仅利用积分强度的不足,充分利用了衍射谱的所有信息,可以获得多晶材料的结构信息。1977年,Rietveld法扩展到了X射线多晶衍射数据的分析。随着计算机的发展和普遍应用,Rietveld法得到了完善和广泛应用,目前已经成为X射线多晶衍射修正晶体结构的重要方法。
《X射线多晶衍射数据Rietveld精修及GSAS软件入门》一书内容总共包含四章,侧重从操作示例介绍Rietveld法的基本原理和精修过程。第1章简要介绍了Rietveld法结构精修的发展概况、基本原理、精修策略及主要应用。第2章主要介绍常用精修软件EXPGUI-GSAS的安装、使用界面以及各种参数的意义。第3章简要介绍精修用X射线多晶衍射数据的测定要求以及实验条件的选择,并以简单例子演示EXPGUI-GSAS软件的操作过程、精修结果的提取以及精修图谱的绘图。第4章给出了三个提高练习示例,包括创建仪器参数文件、含非晶混合物的定量分析以及占位修正等。
本书可以作为材料、化学以及地质等领域学习X射线多晶衍射数据Rietveld法结构精修和GSAS软件的入门参考资料,也可以作为本科生、研究生的实验教材。
本书第1章由李强教授编写,第2~4章由郑振环编写。书中一些具体数据和操作示例来源于一些已经发表的文献,已列于参考文献,在此向原作者表示感谢。
由于作者的水平有限,书中难免存在错误和不足之处,诚恳地希望广大读者批评指正。
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