包郵 X射綫多晶衍射數據Rietveld精修及GSAS軟件入門 自然科學 物理學 理論物 下載 mobi epub pdf 電子書 2024
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鄭振環,李強 著
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發表於2024-12-27
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圖書介紹
店鋪: 布剋專營店
齣版社: 中國建材工業齣版社
ISBN:9787516014561
商品編碼:24370461238
包裝:平裝-膠訂
開本:16
齣版時間:2016-06-01
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圖書描述
商品參數
X射綫多晶衍射數據Rietveld精修及GSAS軟件入門 |
| 定價 | 45.80 |
齣版社 | 中國建材工業齣版社 |
版次 | 1 |
齣版時間 | 2016年06月 |
開本 | 16開 |
作者 | 鄭振環,李強 |
裝幀 | 平裝-膠訂 |
頁數 | |
字數 | |
ISBN編碼 | 9787516014561 |
重量 | 194 |
內容介紹
Rietveld法全譜擬閤已成為X射綫多晶衍射修正晶體結構的重要方法。本書共分為四章,側重從操作示例介紹Rietveld法的基本原理和精修過程。第1章簡要介紹Rietveld法的發展概況和基本原理。第2章介紹精修軟件EXPGUI-GSAS的安裝和使用界麵。第3章介紹Rietveld法X射綫多晶衍射數據的實驗測試,並以簡單例子演示EXPGUI-GSAS精修過程以及結果的提取和圖譜繪圖。第4章給齣瞭三個提高練習示例,包括創建儀器參數文件、含非晶混閤物的定量分析以及占位修正等。
目錄
第1章 Rietveld法結構精修
1.1 Rietveld法結構精修發展概況
1.2 Rietveld法基本原理
1.3 參數修正順序與結果判據
1.3.1 參數修正的順序
1.3.2 精修的數值判據
1.3.3 精修的圖示判斷
1.4 精修過程齣現的問題和對策
1.5 Rietveld法結構精修的應用
1.5.1 修正晶體結構
1.5.2 相變研究和點陣常數測定
1.5.3 物相定量分析
1.5.4 晶粒尺寸和微應變測定
第2章 EXPGUI-GSAS軟件安裝與界麵介紹
2.1 GSAS軟件簡介
2.2 EXPGUI-GSAS軟件的安裝
2.3 EXPGUI-GSAS軟件界麵介紹
2.3.1 菜單欄
2.3.2 選項卡界麵
2.3.3 EXPGUI幫助內容
第3章 EXPGUI-GSAS結構精修起步
3.1 精修前的準備工作
3.1.1 衍射數據的測定
3.1.2 衍射數據的轉換
3.1.3 初始結構的獲取
3.2 EXPGUI精修簡單示例
3.2.1 生成EXP文件
3.2.2 精修過程
3.2.3 常見問題
3.3 精修結果提取與繪圖
3.3.1 精修結果提取
3.3.2 精修圖譜繪圖
第4章 EXPGUI-GSAS提高練習
4.1 儀器參數文件的建立
4.1.1 基本知識
4.1.2 操作過程
4.2 物相(含非晶)定量分析
4.2.1 基本原理
4.2.2 衍射數據測試
4.2.3 精修過程
4.3 Le Bail法擬閤以及約束的使用
4.3.1 問題描述
4.3.2 精修過程
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