正版世電子元器件應用技術手冊 微電子器件分冊9787506657518韓英歧 下載 mobi epub pdf 電子書 2024

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基本信息

書名：電子元器件應用技術手冊 微電子器件分冊

定價：43.00元

作者：韓英歧

齣版社：中國標準齣版社

齣版日期：2010-04-01

ISBN：9787506657518

字數：

頁碼：

版次：1

裝幀：平裝

開本：16開

商品重量：0.499kg

編輯推薦

內容提要

本手冊收集瞭主要常用電子元器件的有關標準、選用原則、檢驗、測試、篩選等應用知識，並收集瞭部分常用的、有特殊性能的元器件的型號、規格及主要電性能參數，供讀者選用時參考，其目的就是為廣大科技人員、電路設計師、可靠性工程師、電子物資人員及檢驗人員提供一套比較完整實用的電子元器件應用技術資料。

目錄

章 微電子器件的分類與命名方法
1.1 微電子器件的分類
1.2 微電子器件的命名方法
1.2.1 國産微電子器件的型號命名方法
1.2.2 主要國傢和地區半導體分立器件命名方法
第2章 微電子器件的主要電性能參數及檢測
2.1 主要電性能參數
2.1.1 半導體分立器件
2.1.2 集成電路
2.2 微電子器件的檢測
2.2.1 微電子器件的檢驗規則
2.2.2 半導體分立器件的測試
2.2.3 集成電路的測試
2.3 微電子器件測試儀器
2.3.1 分立器件的測試儀器——STS 8103A半導體分立器件測試係統
2.3.2 集成電路的測試儀器
第3章 微電子器件的二次篩選
3.1 電子元器件篩選的目的與要求
3.2 確定元器件篩選程序的依據
3.3 篩選程序
3.4 篩選試驗項目
3.4.1 高溫存貯試驗篩選(穩定性烘焙)
3.4.2 電老煉篩選
3.4.3 溫度循環試驗篩選
3.4.4 密封檢漏篩選
3.4.5 晶體管熱敏參數快速篩選試驗
3.4.6 粒子碰撞噪聲檢測試驗篩選(PIND試驗)
3.5 篩選試驗的利弊分析
3.5.1 篩選付齣的代價
3.5.2 元器件二次篩選的局限性和風險性
3.5.3 對主要篩選試驗項目的分析
3.6 篩選程序規範及舉例
3.6.1 對軍用半導體分立器件的篩選試驗要求
3.6.2 對軍用集成電路的篩選試驗要求
3.6.3 篩選程序舉例
3.7 篩選試驗設備
3.7.1 SPZH-T高溫分立器件綜閤老煉檢測係統
3.7.2 SPJT-G大功率晶體管老煉篩選係統
3.7.3 SPDC-T DC／DC電源高溫老煉檢測係統
第4章 電子元器件的選擇與控製
4.1 微電子器件的質量等級
4.2 電子元器件的失效率等級
4.3 “七專”元器件
4.4 元器件的選擇規則
4.5 電子元器件的質量控製
4.5.1 製定元器件可靠性保障大綱
4.5.2 對電子物資部門的要求
4.5.3 研製整機電子元器件的質量控製
第5章 微電子器件的可靠性應用
5.1 電浪湧對器件造成的損傷與防範
5.1.1 接通電容性負載時産生的浪湧電流
5.1.2 斷開電感性負載時産生的浪湧電壓
5.1.3 驅動白熾燈時産生的浪湧電流
5.1.4 數字集成電路開關工作時産生的電流浪湧
5.1.5 直流穩壓電源引起的浪湧
5.1.6 接地不當導緻器件損壞
5.1.7 TTL電路防浪湧乾擾的應用
5.2 噪聲對微電子器件的影響
5.2.1 對接地不良引起噪聲的防範
5.2.2 對靜電耦閤和電磁耦閤産生噪聲的防範
5.2.3 對反射引起噪聲的防範
5.3 溫度對微電子器件的影響
5.4 機械過應力對器件的損傷
5.4.1 引綫的形成與切斷
5.4.2 在印製闆上安裝器件
5.4.3 焊接
5.4.4 器件在整機係統中的布局設計
5.4.5 運輸
5.5 微電子器件的降額使用
5.5.1 微電子器件大額定值的概念
5.5.2 閤理降額
5.5.3 在降額使用時應注意的問題
5.6 微電子器件的抗輻射應用
5.6.1 抗輻射加固在電子整機係統的器件選擇
5.6.2 電子整機係統中的抗輻射措施
5.7 常用集成電路應遵守的一般規則
5.8 集成穩壓器的應用與安全保護
5.8.1 集成穩壓器的保護電路
5.8.2 使用中的安全保護
第6章 失效分析
6.1 失效分析所具備的基本條件
6.1.1 專業分析人員
6.1.2 分析設備及相關測試儀器
6.1.3 失效分析環境條件要求
6.2 微電子器件失效分析的一般程序
6.2.1 開封前
6.2.2 開封後
6.3 微電子器件失效模式與失效機理分析
6.3.1 微電子器件的製造工藝概述
6.3.2 工藝缺陷技術術語簡介
6.3.3 失效模式與失效機理
6.4 失效機理分析
6.4.1 錶麵失效機理分析
6.4.2 體內失效機理分析
6.4.3 電極係統及封裝的失效機理分析
6.5 利用測試特性麯綫進行分析
6.5.1 PN結特性麯綫
6.5.2 晶體管異常輸齣特性麯綫
6.5.3 測試IC管腳電特性分析失效原因
第7章 靜電對微電子器件的危害與防範
7.1 靜電的危害
7.1.1 靜電效應
7.1.2 靜電的危害
7.1.3 靜電對電子産品的損害形式
7.2 靜電敏感器件(SSD)的分級
7.2.1 靜電放電敏感度的分類
7.2.2 人體帶電模型
7.3 靜電的防護
7.3.1 建立安全工作區
7.3.2 靜電接地技術及其應用
7.3.3 靜電防護的基本要求
7.3.4 靜電的防護措施
7.4 防靜電保護
7.4.1 防靜電保護元件
7.4.2 防靜電器材
第8章 半導體二極管
8.1 整流二極管
8.1.1 1N係列整流二極管
8.1.2 2DP係列整流二極管
8.1.3 快速恢復整流二極管
8.2 穩壓二極管
8.2.1 2CW37係列穩壓二極管
8.2.2 2CW係列穩壓二極管
8.2.3 1N係列玻封矽穩壓二極管
8.3 開關二極管
8.3.1 2CK係列矽開關二極管
8.3.2 1N係列開關二極管
8.4 微波二極管
8.4.1 簡介
8.4.2 點接觸二極管主要特性參數
8.4.3 肖特基勢壘二極管
8.4.4 PIN二極管
8.4.5 體效應二極管
8.4.6 變容二極管
8.5 點接觸二極管
第9章 半導體三極管
9.1 半導體三極管的結構
9.2 半導體三極管的分類
9.3 半導體三極管的工作原理
9.4 半導體三極管的特性麯綫
9.5 中小功率三極管
9.6 開關三極管
9.7 高反壓三極管
9.8 大功率三極管
9.9 低噪聲三極管
9.10 雙三極管
9.11 達林頓晶體管
0章 集成電路
10.1 數字集成電路
10.1.1 CMOS電路主要性能參數
10.1.2 數字集成電路外引綫排列圖
10.2 模擬集成電路
10.2.1 常用集成運算放大器主要性能參數
10.2.2 集成運算放大器的封裝形式及引腳排列
10.2.3 運算放大器基本應用電路
參考文獻

作者介紹

文摘

序言