数字集成电路测试优化

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李晓维 著



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发表于2024-11-25

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图书介绍

店铺: 广影图书专营店
出版社: 科学出版社
ISBN:9787030278944
商品编码:29692256655
包装:精装
出版时间:2010-06-01


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图书描述

基本信息

书名:数字集成电路测试优化

定价:58.00元

售价:39.4元,便宜18.6元,折扣67

作者:李晓维

出版社:科学出版社

出版日期:2010-06-01

ISBN:9787030278944

字数:

页码:

版次:1

装帧:精装

开本:16开

商品重量:0.740kg

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内容提要


本书内容涉及数字集成电路测试优化的三个主要方面:测试压缩、测试功耗优化、测试调度。包括测试数据压缩的基本原理,激励压缩的有效方法,测试响应压缩方法和电路结构;测试功耗优化的基本原理,静态测试功耗优化方法,动态测试功耗优化;测试压缩与测试功耗协同优化方法;测试压缩与测试调度协同优化方法;并以国产64位高性能处理器(龙芯2E和2F)为例介绍了相关成果的应用。
全书阐述了作者及其科研团队自主创新的研究成果和结论,对致力于数字集成电路测试与设计研究的科研人员(尤其是在读研究生)具有较大的学术参考价值,也可用作集成电路专业的高等院校教师、研究生和高年级本科生的教学参考书。

目录


作者介绍


文摘


序言



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