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数字集成电路测试优化

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李晓维 著

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发表于2024-11-13

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图书介绍

店铺： 广影图书专营店
出版社： 科学出版社
ISBN：9787030278944
商品编码：29692256655
包装：精装
出版时间：2010-06-01

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图书描述

基本信息

书名:数字集成电路测试优化

定价：58.00元

售价：39.4元,便宜18.6元,折扣67

作者:李晓维

出版社：科学出版社

出版日期：2010-06-01

ISBN：9787030278944

字数：

页码：

版次：1

装帧：精装

开本：16开

商品重量：0.740kg

编辑推荐

内容提要

本书内容涉及数字集成电路测试优化的三个主要方面：测试压缩、测试功耗优化、测试调度。包括测试数据压缩的基本原理，激励压缩的有效方法，测试响应压缩方法和电路结构；测试功耗优化的基本原理，静态测试功耗优化方法，动态测试功耗优化；测试压缩与测试功耗协同优化方法；测试压缩与测试调度协同优化方法；并以国产64位高性能处理器(龙芯2E和2F)为例介绍了相关成果的应用。
全书阐述了作者及其科研团队自主创新的研究成果和结论，对致力于数字集成电路测试与设计研究的科研人员(尤其是在读研究生)具有较大的学术参考价值，也可用作集成电路专业的高等院校教师、研究生和高年级本科生的教学参考书。

目录

作者介绍

文摘

序言


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