發表於2024-11-20
圖書基本信息 | |||
圖書名稱 | SOC/ASIC設計、驗證和測試方法學 | 作者 | 瀋理 |
定價 | 35.00元 | 齣版社 | 中山大學齣版社 |
ISBN | 9787306026828 | 齣版日期 | 2006-03-01 |
字數 | 頁碼 | ||
版次 | 1 | 裝幀 | 平裝 |
內容簡介 | |
本書闡述設計係統芯片(SOC)所需的新的設計、驗證和測試方法學,其基本原理同樣適閤於超大規模專用集成電路芯片(ASIC)的設計。 本書分兩大部分:部分為1~5章,是本書方法學的主要內容;第二部分為6,7章,介紹實際的電子設計自動化(EDA)工具和設計環境。章簡述集成電路的發展,介紹國際半導體技術路綫圖,以及SOC設計所麵臨的挑戰。第2章闡述SOC設計方法學,包括SOC的模型、設計分層,介紹設計重用和虛擬插座接口技術。第3章闡述SOC/ASIC驗證方法學,包括功能驗證、等價驗證、靜態分析驗證、物理驗證等。第4章闡述SOC/ASIC測試方法學,介紹集成電路測試技術和可測試性設計方法。第5章介紹設計集成電路常用的硬件描述語言及其新發展,包括SystemC,SystemVeri—log,OpenVera等語言。第6章介紹synopsys公司的EDA係統,以及相應的IC設計和驗證方法學。第7章給齣一個Philips S0C設計平颱的實例。 本書主要是麵嚮進入IC設計領域工作的科技人員、相關專業大學生和研究生,以及對高新技術有興趣、需要更新知識的人群。 |
作者簡介 | |
瀋理,男,1937年10月齣生,浙江省人。1959年畢業於浙江大學電機工程係,並進入中國科學院計算技術研究所工作。研究員,博士生導師。 從事計算機學科領域的研究工作。早期曾參加我國颱大型電子管計算機——104機的研究工作,以及多颱計算機的電路研究和體係結構設 |
目錄 | |
章 緒論 1.1 集成電路工業發展裏程碑 1.2 半導體技術發展路綫圖 1.3 集成電路設計驅動 1.4 soc設計挑戰 參考文獻 第2章 SOC設計 2.1 SOC模型 2.2 SOC設計分層 2.3 SOC係統設計 2.4 SOC硬件設計 2.5 SOC設計重用技術 2.6 S0c設計方法學 參考文獻 第3章 SOC/ASIC驗證 3.1 驗證技術概述 3.2 模擬 3.3 驗證測試程序自動化 3.4 Lint檢驗 3.5 靜態時序分析 3.6 形式等價檢驗 3.7 形式模型檢驗 3.8 定理證明驗證 3.9 斷言驗證 3.10 集成電路設計的驗證方法學 參考文獻 第4章 SOC/ASIC測試 4.1 測試技術概述 4.2 故障模擬 4.3 自動測試嚮量生成 4.4 電流測試 4.5 存儲器測試 4.6 可測試性設計技術 4.7 掃描設計 4.8 邊界掃描設計 4.9 內建自測試(BIST) 4.10 存儲器的可測試性設計 4.11 SOC的可測試性設計 4.12 可調試性設計 4.13 可製造性設計和可維護性設計 4.14 集成電路的測試方法學 參考文獻 第5章 集成電路設計語言 第6章 Synopsys EDA係統 第7章 SOC設計平颱實例——Philips Nexperia-DVP 附錄 英文縮寫詞 |
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