作 者:恩雲飛,來萍,李少平 編著 定 價:98 齣 版 社:電子工業齣版社 齣版日期:2015年10月01日 頁 數:453 裝 幀:平裝 ISBN:9787121272301 ●篇電子元器件失效分析概論
●第1章電子元器件可靠性(2)
●1.1電子元器件可靠性基本概念(2)
●1.1.1纍積失效概率(2)
●1.1.2瞬時失效率(3)
●1.1.3壽命(5)
●1.2電子元器件失效及基本分類(6)
●1.2.1按失效機理的分類(7)
●1.2.2按失效時間特徵的分類(7)
●1.2.3按失效後果的分類(8)
●參考文獻(8)
●第2章電子元器件失效分析(9)
●2.1失效分析的作用和意義(9)
●2.1.1失效分析是提高電子元器件可靠性的必要途徑(9)
●2.1.2失效分析在工程中有具有重要的支撐作用(10)
●2.1.3失效分析會産生顯著的經濟效益(10)
●2.1.4小結(11)
●2.2開展失效分析的基礎(11)
●2.2.1具有電子元器件專業基礎知識(11)
●2.2.2瞭解和掌握電子元器件失效機理(12)
●部分目錄
內容簡介
本書係統地介紹瞭電子元器 件失效分析技術。全書共19章。靠前篇電子元器件失 效分析概論,分兩章介紹瞭電子元器件可靠性及失效 分析概況;第二篇失效分析技術,用7章的篇幅較為 詳細地介紹瞭失效分析中常用的技術手段,包括電測 試、顯微形貌分析、顯微結構分析、物理性能探測、 微區成分分析、應力試驗和解剖製樣等技術;第三篇 電子元器件失效分析方法和程序,介紹瞭通用元件、 機電元件、分立器件與集成電路、混閤集成電路、半 導體微波器件、闆級組件和電真空器件共7類元器件 的失效分析方法和程序;第四篇電子元器件失效預防 有3章內容,包括電子元器件失效模式及影響分析方 法(FMEA)、電子元器件故障樹分析(FTA)和工程應用 中電子元器件失效預防。
本書是作者總結多年的研究等 恩雲飛,來萍,李少平 編著 恩雲飛,工業和信息化部電子第五研究所研究員,中國電子學會可靠性分會委員,中國電子學會真空電子分會委員,中國電子學會第八屆理事會青年與誌願者工作委員會委員,廣東省電子學會理事,《失效分析與預防》編委會委員,長期從事電子元器件可靠性工作,在電子元器件可靠性物理、評價及試驗方法等方麵取得顯著研究成果,先後獲省部級科技奬勵10項,發錶學術論文40餘篇,申請及授權國傢發明專利10餘項。
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