作 者:恩云飞,来萍,李少平 编著 定 价:98 出 版 社:电子工业出版社 出版日期:2015年10月01日 页 数:453 装 帧:平装 ISBN:9787121272301 ●篇电子元器件失效分析概论
●第1章电子元器件可靠性(2)
●1.1电子元器件可靠性基本概念(2)
●1.1.1累积失效概率(2)
●1.1.2瞬时失效率(3)
●1.1.3寿命(5)
●1.2电子元器件失效及基本分类(6)
●1.2.1按失效机理的分类(7)
●1.2.2按失效时间特征的分类(7)
●1.2.3按失效后果的分类(8)
●参考文献(8)
●第2章电子元器件失效分析(9)
●2.1失效分析的作用和意义(9)
●2.1.1失效分析是提高电子元器件可靠性的必要途径(9)
●2.1.2失效分析在工程中有具有重要的支撑作用(10)
●2.1.3失效分析会产生显著的经济效益(10)
●2.1.4小结(11)
●2.2开展失效分析的基础(11)
●2.2.1具有电子元器件专业基础知识(11)
●2.2.2了解和掌握电子元器件失效机理(12)
●部分目录
内容简介
本书系统地介绍了电子元器 件失效分析技术。全书共19章。靠前篇电子元器件失 效分析概论,分两章介绍了电子元器件可靠性及失效 分析概况;第二篇失效分析技术,用7章的篇幅较为 详细地介绍了失效分析中常用的技术手段,包括电测 试、显微形貌分析、显微结构分析、物理性能探测、 微区成分分析、应力试验和解剖制样等技术;第三篇 电子元器件失效分析方法和程序,介绍了通用元件、 机电元件、分立器件与集成电路、混合集成电路、半 导体微波器件、板级组件和电真空器件共7类元器件 的失效分析方法和程序;第四篇电子元器件失效预防 有3章内容,包括电子元器件失效模式及影响分析方 法(FMEA)、电子元器件故障树分析(FTA)和工程应用 中电子元器件失效预防。
本书是作者总结多年的研究等 恩云飞,来萍,李少平 编著 恩云飞,工业和信息化部电子第五研究所研究员,中国电子学会可靠性分会委员,中国电子学会真空电子分会委员,中国电子学会第八届理事会青年与志愿者工作委员会委员,广东省电子学会理事,《失效分析与预防》编委会委员,长期从事电子元器件可靠性工作,在电子元器件可靠性物理、评价及试验方法等方面取得显著研究成果,先后获省部级科技奖励10项,发表学术论文40余篇,申请及授权国家发明专利10余项。
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