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数字系统测试和可测试性设计

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[美] 塞纳拉伯丁·纳瓦比Zainalabedin 著

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发表于2024-11-27

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图书介绍

店铺： 天泰尚图书专营店
出版社： 机械工业出版社
ISBN：9787111501541
商品编码：29641925830
包装：平装
出版时间：2015-07-01

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图书描述

基本信息

书名：数字系统测试和可测试性设计

定价：85元

作者： 塞纳拉伯丁·纳瓦比(Zainalabedin Nav

出版社：机械工业出版社

出版日期：2015-07-01

ISBN：9787111501541

字数：

页码：

版次：1

装帧：平装

开本：16开

商品重量：0.4kg

编辑推荐

内容提要

本书论述了数字系统测试和可测试性设计，它通过数字电路设计实例和方法阐明了测试和可测试性的概念。本书还采用Verilog模型和Verilog测试平台实现并解释故障仿真和测试生成算法。

本书广泛使用Verilog和Verilog PLI编写测试应用，这也是本书与其他有关数字系统测试和可测试性设计的大区别。 此外，本书还广泛使用测试平台和相应的测试平台开发技术。在开发测试平台和虚拟测试机的过程中，本书使用了PLI，PLI是一个功能强大的编程工具，它提供与用Verilog语言描述的硬件进行交互的接口。这种硬件/软件混合的环境有助于本书描述复杂的测试程序和测试策略。

目录

作者介绍

文摘

序言


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