天线几何量测量理论及其应用

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李宗春,李广云 著
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出版社: 测绘出版社
ISBN:9787503019678
版次:1
商品编码:10169286
包装:平装
开本:16开
出版时间:2009-12-01
用纸:胶版纸
页数:188
正文语种:中文

具体描述

内容简介

  《天线几何量测量理论及其应用》针对天线测量参考资料匮乏这一现状,总结多年从事天线测量研究的经验,构建了天线测量的理论和技术体系。全书共分8章,前4章分析了天线测量技术的现状,理清了天线行业对测量技术的要求,系统介绍并首次提出了多种天线测量方法,在此基础上构建了天线测量数据处理的基本体系。最后4章介绍了世界上最大的抛物环面天线测量、探月工程50m天线测量、国际知名天线测量实践,以及FAST工程和上海天文台65 m天线的设计情况,以期对天线测量从业人员有所帮助。
  《天线几何量测量理论及其应用》的读者对象包括精密工程测量技术人员,天线结构设计、工艺等方面技术人员,大中专院校在校学生,以及相关工程和研究人员。

内页插图

目录

第1章 绪论
1.1 研究背景
1.2 国内外研究现状
1.3 本书主要内容

第2章 天线设计、制造与测量基础理论
2.1 天线几何特性
2.2 天线的数学模型与结构
2.3 天线设计对测量精度的要求
2.4 天线制造对测量精度的要求
2.5 测点布设方案
2.6 主动反射面技术简述
2.7 小结

第3章 天线测量技术与方法
3.1 传统测量方法
3.2 射电全息法
3.3 正交坐标系测量机
3.4 非正交坐标系测量系统
3.5 小结

第4章天线测量数据处理理论和方法
4.1 坐标转换
4.2 表面精度
4.3 顾及形状参数的坐标转换与表面精度
4.4 天线变形观测数据处理及预测
4.5 数据处理可视化
4.6 小结

第5章 大型抛物环面天线测量实践
5.1 基本设计理论及坐标系
5.2 测量方案论证
5.3 测量控制网
5.4 背架拼装与测量
5.5 面板水平拼装
5.6 座架测量与调整
5.7 工作姿态下的测量与调整
5.8 馈源轨道的安装放样
5.9 电测结果
5.10 小结

第6章 50m天线测量实践
6.1 工程概况
6.2 测量方案论证
6.3 座架支撑系统安装与调整
6.4 俯仰组合系统安装与调整
6.5 天线系统安装与检测
6.6 电测结果
6.7 小结

第7章 国外天线测量实践
7.1 Arecibo天线
7.2 GBT天线
7.3 LMT天线

第8章 新的挑战
8.1 FAST212程
8.2 上海天文台65m天线
参考文献

精彩书摘

  综上所述,测量系统与天线制造的结合体现在多个方面,简而言之,主要应满足三个需求:一是几何质量检测的需求,二是安装测量的需求,三是变形测量的需求。从这一角度看,国外的天线测量水平总体高于国内,表现为方法多样、理论严密、装备先进、经验丰富。这一方面预示着我们精密工程测量专业有着很大的发展空间,另一方面也说明精密工程测量和天线测量相结合还有一个艰辛探索、渐进前行的过程。
  1.2.2 数据处理方法
  数据处理要解决的问题是提高数据处理的速度、可靠性和科学性。数据处理方法与测量方法联系密切。传统的测量方法一般是将测量系统建立在天线的设计坐标系中,数据处理相对比较简单。应用工业测量系统进行天线测量时,一般情况下测量坐标系和设计坐标系并不一致,因而数据处理的首要问题是解决两坐标系之间的转换。目前主要的方法是曲面自由拟合法(李广云等,1997)和公共点转换法(马世锋,1998),它们都有一定的缺陷需要克服,要研究更加科学合理的转换方法。当测量数据转换到天线的设计坐标后,法向偏差及表面精度的统计就成为主要工作,而该问题在各类文献中很少提及,尤其对于数学模型比较复杂的天线,需要深入地研究。另外为了体现测量数据对天线的指导作用,需要研究最优主面精度和馈源微小调整量的计算方法。为增加处理结果的表达方式,还需要解决天线数据处理过程及结果可视化表达问题。

前言/序言

  这是一本关于面天线几何量测量技术的专著,全面系统地研究了各种测量系统的原理、组成和技术特点,并分析了其测量精度,讨论了各种测量系统的应用前景和发展趋势。
  本书有下述特点:第一,系统性强。书中不但介绍了传统的测量方法,并且也深入讨论了诸如全息法、三坐标测量机和非正交坐标测量系统等近些年来涌现的现代测量技术,从而可以看出天线几何量测量技术进步和发展的轨迹。第二,完备性好。书中不但介绍了各种测量方法的基本原理,测试系统的组成,并且也研究了数学模型的建立,测试数据的处理过程,更进一步地分析了各种测试方法的约束条件和适用范围,从而给读者提供了每种测试方法的清晰概貌。第三,创新性高。例如对于面天线面形测量,作者提出了三种方法,曲面自由拟合法、公共点转换法和CAD面型转换法,具有相当的新颖性;又如作者针对大型抛物环面天线测量问题,建立了一套比较科学和完整的技术方案和工程实施措施,具有独创性。第四,实践性强。本书用相当的篇幅介绍了各种具体天线的实测方案、测试过程、模型分析、测试中所碰到的技术问题的解决方法、测试结果、电气性能的实测佐证等。第五,实用性强。本书给出了各种测试系统的详细组成、具体的测试步骤、测试中的技术要素、数据处理模型的建立等等,因此本书所介绍的系统和方法拿来即可用。
好的,这是一本关于高精度光学检测技术与精密测量的图书简介,内容侧重于非接触式测量、表面形貌分析以及先进的传感技术在工业和科研中的应用。 --- 图书名称: 《先进光学传感与精密表面形貌测量技术》 图书简介: 本书深入探讨了现代工业制造、微纳加工以及前沿科学研究中对高精度、非接触式测量的迫切需求,系统梳理了当前最先进的光学传感、图像处理与精密形貌测量技术体系。全书内容涵盖了从基础的光学成像原理到复杂的算法模型,旨在为工程师、科研人员和高级院校师生提供一个全面而实用的技术参考平台。 第一部分:光学测量基础与成像系统设计 本部分首先回顾了光与物质相互作用的基本物理原理,重点阐述了衍射、干涉和散射现象在测量学中的应用。详细分析了不同类型光学系统的设计原则,包括远心光路、共聚焦配置以及离轴成像系统的误差来源与校正方法。特别关注了现代高分辨率CCD/CMOS传感器、面阵与线阵扫描器件的性能指标、噪声模型及其对测量精度的影响。内容细致入微,涵盖了如何根据具体测量任务(如大视场快速扫描或微米级细节分辨)选择和优化成像硬件配置。 第二部分:非接触式三维形貌测量方法 这是本书的核心部分,系统介绍了当前主流的非接触式三维形貌测量技术及其技术瓶颈的突破。 结构光与相位测量技术(PMS): 详细剖析了多频编码、格雷码投射以及快速傅里叶变换(FFT)解调算法的数学原理。着重讨论了非线性调制、环境光干扰以及物体表面反射率不均对相位准确性的影响,并提出了基于深度学习的相位误差补偿策略。 激光扫描测量技术: 涵盖了聚焦激光束扫描(Confocal)和共聚焦扫描(Laser Triangulation)的工作原理。深入分析了三角测量原理中的几何误差源,以及如何通过精密的扫描控制系统和高精度伺服机构来提升测量重复性和空间分辨率。 干涉测量技术: 本章聚焦于白光干涉(WLI)和激光干涉测量。详细阐述了米氏干涉仪、迈克尔逊干涉仪在位移和表面粗糙度测量中的应用。特别对白光干涉中的载波条纹分析、低相干性光束的干涉信号获取以及时间域/空间域的信号处理技术进行了深入探讨,确保了对纳米级形貌特征的准确重构。 第三部分:微纳尺度表面形貌分析与量化 随着半导体、精密光学元件制造的发展,对表面粗糙度(RMS/Ra/Rq)和微观结构(如划痕、凹坑)的量化分析变得至关重要。本部分侧重于数据后处理和标准制定。 形貌数据处理与滤波: 介绍了傅里叶变换域滤波、小波分析在去除环境噪声和系统误差方面的应用。区分了形貌轮廓与表面粗糙度测量的标准,强调了在不同测量尺度下(如光学传递函数限制)的滤波策略选择。 表面纹理与各向异性分析: 讨论了如何通过二维功率谱密度(PSD)分析来量化表面在不同空间频率上的随机性与周期性特征,这对于理解表面散射特性至关重要。 计量学标准与不确定度评估: 参照国际标准(如ISO/ASME标准),详细阐述了测量结果的准确度、精密度、重复性和可比性的评估方法,帮助用户建立可靠的质量控制流程。 第四部分:先进传感器集成与应用案例 本书的最后部分关注于前沿技术集成和实际工程应用。探讨了将先进光学测量模块嵌入到自动化生产线中的挑战,包括高速数据采集、实时反馈控制系统的构建。内容涵盖了基于机器视觉的在线缺陷检测系统、大口径非球面光学元件的零点误差补偿测量,以及在增材制造过程中对熔池形貌的实时监测技术。这些案例展示了如何将理论模型转化为高可靠性的工业解决方案。 本书特点: 本书理论基础扎实,数学推导严谨,同时紧密结合最新的工程实践。通过大量的图表和详尽的算法流程图,帮助读者建立清晰的技术理解框架。它不仅仅是一本理论教科书,更是一本指导实践、解决复杂光学测量难题的技术手册。 ---

用户评价

评分

这本书的书名就给我一种非常硬核、专业的感觉,所以我拿到它的时候,心里是怀揣着一种对知识的敬畏,同时也有一点点忐忑。毕竟,“天线几何量测量理论”听起来就不是那种可以轻松翻阅的读物。我之前涉足过一些天线设计的基础知识,对一些基本概念有些了解,但涉及到“几何量测量理论”这个层面,就感觉进入了一个更深层次的领域。我特别期待书中能够详细阐述测量过程中会遇到的各种误差来源,以及如何通过理论分析来量化和控制这些误差。不知道书中是否会涉及到不同类型天线的几何参数测量方法,例如微带天线、喇叭天线、偶极子天线等等,它们在测量时可能存在的独特性和挑战。而且,我想知道书中对于“理论”的阐述会达到什么程度,是偏向于数学建模和推导,还是会结合实际的测量仪器和流程进行讲解?我希望它能给我提供一个坚实的理论基础,让我能够理解为什么某些测量方法是有效的,以及在遇到问题时,我能从理论层面找到解决思路。这本书的“应用”部分也引起了我的兴趣,不知道会涵盖哪些具体的应用场景,比如雷达系统、通信基站、射频识别等等,这些应用对天线几何精度的要求会有哪些差异?我希望能从中学习到如何将抽象的理论知识转化为实际的工程实践,最终服务于通信、导航、探测等各个领域。

评分

拿到这本书,我的第一感觉是它可能是一个非常扎实的理论基石。我对天线领域的研究有着浓厚的兴趣,特别是涉及到其物理实现的精确性。而“几何量测量理论”这个部分,在我看来,正是连接理论设计与实际制造的关键桥梁。我希望书中能够详尽地阐述测量过程中各种可能存在的系统误差和随机误差,并且提供系统性的分析和校正方法。例如,在测量微带天线时,基板厚度、介电常数以及蚀刻精度都会对最终的辐射性能产生影响,这本书是否会深入探讨这些因素以及如何通过精确的几何测量来控制它们?我更希望看到书中能够介绍一些先进的测量技术和仪器,比如三维扫描仪、坐标测量机(CMM)或者光学测量系统,以及它们在天线几何量测量中的具体应用。此外,“应用”部分也令我非常好奇,它会涵盖哪些领域?是通信天线、导航天线,还是雷达天线?不同应用场景下对天线几何精度的要求又有何不同?我希望这本书能够提供一些实际案例,展示如何将测量理论转化为解决实际工程问题的方案,让我能够从中获得解决实际问题的灵感和方法。我期待这本书能让我对天线生产的每一个环节都有更清晰的认知,并且能够独立地分析和解决在实际工作中遇到的测量难题。

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当我看到《天线几何量测量理论及其应用》这本书时,脑海中立即浮现出的是精密仪器和复杂的测量流程。我一直认为,天线设计的精髓很大程度上体现在其物理结构的精准度上,而“几何量测量”正是确保这一精准度的核心环节。我迫切希望书中能够详细讲解测量过程中涉及到的各种关键几何参数,例如天线的尺寸、形状、位置精度,以及它们如何直接影响到天线的电磁性能。更重要的是,我期待书中能对测量理论进行深入的探讨,包括不同测量方法的原理、优缺点,以及如何在实际操作中选择最合适的方法。不知道书中是否会涉及一些数值计算和仿真技术,用以辅助几何量的分析和验证?此外,“应用”这个词也引起了我的极大兴趣。我希望能看到书中分享一些在实际工程项目中,如何利用精确的几何量测量来优化天线性能的案例。比如,在制造大型通信天线阵列时,如何通过高精度的几何测量来保证阵列的整体性能?或者在研发新型高性能天线时,几何量测量在设计验证和故障诊断中扮演着怎样的角色?我希望这本书能够给我提供一套完整的知识体系,让我能够从理论到实践,全面掌握天线几何量测量的技术,并将其应用于实际工作中。

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这本书的书名《天线几何量测量理论及其应用》本身就带有一种专业而深邃的吸引力,勾起了我对天线精密制造领域的好奇心。我一直觉得,再精妙的天线设计,如果制造精度跟不上,最终的性能也会大打折扣。因此,我非常想知道书中是如何系统性地阐述“几何量测量理论”的。它是否会涵盖从基础的测量原理,到复杂的测量模型,再到误差分析和校正技术?我尤其关注书中是否会介绍一些针对不同类型天线的特定几何量测量方法,比如微带天线、偶极子天线、八木天线等,它们在测量时是否需要特殊的考量?而且,“应用”部分更是让我期待,不知道书中会列举哪些具体的应用场景,例如雷达系统、卫星通信、移动通信基站等,这些应用领域对天线几何精度的要求会有何差异?我希望能从中学习到如何将抽象的测量理论与实际的工程需求相结合,解决实际生产和研发中遇到的问题。我希望这本书能够为我提供一个清晰的脉络,让我能够理解天线几何量测量的重要性和其在整个天线工程流程中的地位,并且能够从中获得解决实际问题的启发。

评分

我一直在寻找一本能够填补我对天线测量技术认知空白的书籍,当我在书店看到《天线几何量测量理论及其应用》这个名字时,立刻被它吸引了。这本书的名字传递出一种严谨、系统性的信息,让我觉得它可能包含了我一直想要了解的知识。我之所以对“几何量测量”这个词特别关注,是因为我认为天线的性能与其几何结构的精确性息息相关。任何微小的偏差都可能导致辐射方向图、阻抗匹配、带宽等关键参数的显著变化。所以,我非常想知道书中会如何深入地讲解测量过程中涉及的各种几何参数,例如波导的尺寸、馈电点的位置、贴片天线的边缘长度、阵列天线的间距等等。而且,我希望书中不仅仅停留在概念的介绍,而是能有详细的数学推导和模型构建,让我理解这些几何参数是如何被精确测量的,以及测量的不确定性是如何产生的。对于“理论”部分,我期待它能解释测量仪器的基本原理,以及在进行测量时需要考虑的物理因素,比如电磁波的传播特性、材料的介电常数等。而“应用”部分,我希望能够看到一些实际的案例分析,比如在特定应用场景下,如何根据天线的几何结构特点来设计和优化测量方案,以及如何利用测量结果来评估和改进天线设计。这本书是否能让我对天线制造和调试过程有一个更深刻的理解,是我非常期待的。

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